热烈祝贺我公司牵头制定的两项国标入选“2016中关村十大创新标准”
2017/05/26
5月25日下午，“2016年中关村十大创新标准”榜单发布。
本次活动自2016年10月24日启动以来，经过征集、初审、专家推介、公众投票等环节，从65个备选标准中最终确定10个项目（13项标准）入选，并向公众发布。
北京天科合达半导体股份有限公司牵头制定的两项国家标准GB/T 30656-2014 《碳化硅单晶抛光片》及GB/T 31351-2014 《碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法》成功入选。
GB/T 30656-2014 《碳化硅单晶抛光片》是国内首次制定的碳化硅半导体产品标准。GB/T 31351-2014 《碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法》规定了4H晶型碳化硅和6H晶型碳化硅单晶抛光片的微管密度的无损检测方法。该方法使用仪器简单，操作方便，同时具有非破坏性，具备良好的可行性。
“2016年中关村十大创新标准”活动是“2016年度中关村品牌推介系列活动”之一，旨在全面提升中关村国家自主创新示范区技术标准创新基地的影响力，搭建和完善中关村标准创新公共服务平台，加快引导中关村企业将技术创新与标准相结合，发现一批技术水平先进、市场应用价值高的技术标准，树立中关村国家技术标准创新基地的品牌形象，有效支撑中关村成为世界前沿技术研发和先进标准创制的引领辐射区。
最新新闻
- 喜报！天科合达荣获国家级重要荣誉—全国五一劳动奖状 2024-04-30
- 实力展示|SEMICON China 2024天科合达携高质量产品亮相上海新国际博览中心 2024-03-26
- 正式启用|重投天科第三代半导体碳化硅材料产业园项目成功揭牌 2024-02-29
- 恭喜！天科合达荣膺芯联集成“2023年度优秀供应商” 2024-02-07
- 常务副总经理彭同华应邀出席中国半导体新材料发展（唐山）论坛 2023-07-07
